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सूची I |
सूची II |
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शोध में प्रयोग की गई प्रतिचयन तकनीक |
विवरण |
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A. साधारण यादृच्छिक प्रतिचयन |
I. इकाइयों की पहचान विभिन्न विशिष्ट विशेषताओं के संदर्भ में की जाती है, जो प्रतिदर्श संरचना तैयार करने से पहले पहचानी जाती हैं |
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B. व्यवस्थित प्रतिचयन |
II.प्रत्येक इकाई को उठाया जाने का एक समान स्वतंत्र मौका दिया जाता है |
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C. विमीय प्रतिचयन |
III. K - अंतराल N/n द्वारा प्राप्त किया जाता है और इकाइयों को उसी का उपयोग करके तैयार किया जाता है, जहां N जनसंख्या का आकार है और n वांछित नमूना आकार है। |
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D. स्नोबाल प्रतिचयन |
IV. पहली घटक इकाई का उपयोग दूसरी इकाई की पहचान करने के लिए किया जाता है |
नीचे दिए गए विकल्पों में से सही उत्तर चुनिए:
1
A - I, B - IV, C - II, D - III
2
A - II, B - III, C - I, D - IV
3
A - IV, B - II, C - III, D - I
4
A - III, B - I, C - IV, D - II